Messen, Kongresse, Workshops

Veranstaltung Datum Ort Beitrag  
6. microTEC Südwest Clusterkonferenz  27.03.2017 - 28.03.2017  Freiburg, Deutschland  Nicht-invasives Blutdruckmonitoring mittels Pulswellenanalyse von photoplethysmografischen Signalen
H.-G. Ortlepp, M. Schädel, O. Brodersen 
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3rd International Conference on Monitoring and Process Control of Anaerobic Digestion Plants  29.03.2017 - 30.03.2017  Leipzig, Deutschland  Monitoring the composition of biogas through impedance spectroscopy
Thomas Frank, Heike Wünscher, Manuel Fiedler, Andrea Cyriax, Arndt Steinke, Thomas Ortlepp 
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Hannover Messe  24.04.2017 - 28.04.2017  Hannover, Deutschland  Messestand
Halle 4, Stand F34 
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SPIE Optics+Optoelectronics Conference EOO105 - Optical Sensors   24.04.2017 - 27.04.2017  Prag, Tschechien  Miniature Optical Components for a Small Inline Polarimeter
A. T. Winzer, M. Schädel, D. Mitrenga, T. Frank, J. Freitag, K. Neckermann
Tiny incident light angle sensor
D. Mitrenga, M. Schädel, A. T. Winzer 
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Mikrosystemtechniken für medizinische Anwendungen  10.05.2017  Erfurt, Deutschland    [iCal]
SMT Hybrid Packaging 2017  16.05.2017 - 18.05.2017  Nürnberg, Deutschland  Messestand
Gemeinschaftsstand des Fraunhofer IZM
O. Brodersen, A. Albrecht
Innovative Verbindungstechnologie auf der Basis reaktiver nanoskalarer Multischichten
Jan Freitag, Axel Schumacher, Georg Dietrich 
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Temperatur 2017  17.05.2017 - 18.05.2017  Berlin, Deutschland  First measurements with a radiation hard relative humidity-Sensor for the ATLAS-Experiment
I. Tobehn-Steinhäuser, J. Stauffenberg, H. Wünscher, T. Ortlepp, S. Kersten, C. Zeitnitz
Hochgenaue kalibrationsfreie Temperaturdioden für den Temperaturbereich von 3 K bis 500 K
I. Tobehn-Steinhäuser, T. Ortlepp 
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AMA SENSOR Konferenz 2017  30.05.2017 - 01.06.2017  Nürberg, Deutschland  Camera-based micro interferometer for applications in distance sensing
Matthias Will, Andreas Winzer, Martin Schädel, Jan Freitag, Olaf Brodersen
Reliability and long-term stability of the mounted silicon strain gauges for precision measurements
Thomas Frank, Andrea Cyriax, Andre Grün, Manuel Kermann, Thomas Ortlepp 
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SENSOR & TEST 2017  30.05.2017 - 01.06.2017  Nürnberg, Deutschland  Messestand
Halle 1, Stand 1-150 
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2017 International Workshop on superconducting quantum technology  18.06.2017 - 21.06.2017  Jena, Deutschland    [iCal]
11. Anwenderkongress Steckverbinder  26.06.2017 - 28.06.2017  Würzburg, Deutschland  Miniaturisierte Kraftsensoren zur Kontaktkraftmessung an Steckverbindern
Th. Frank, A. Cyriax, Th.Ortlepp, A. Schmitt, G. Fichtner 
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ELMUG4Future 2017  27.06.2017 - 28.06.2017  Friedrichroda, Deutschland  Fast Product Development by Building Blocks with higher Technology Readiness Level (TRL)
A. Steinke 
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GADEST - 17th Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology  01.10.2017 - 06.10.2017  Lopota Resort, Georgien  Impact of electron irradiation on N- and O-enriched FZ silicon p-in-n pad radiation detectors
K. Lauer, X. Xu, D. Karolewski, U. Gohs, M. Kwestarz, P. Kaminski, R. Täschner, T. Klein, T. Wittig, R. Röder, T. Ortlepp
Investigation of light-induced degradation in electron irradiated silicon by charge carrier lifetime measurements
K. Lauer, X. Xu, T. Klein, U. Gohs 
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MikroSystemTechnik Kongress 2017  23.10.2017 - 25.10.2017  München, Deutschland  AVT und proof of concept eines supraleitenden Einzelphotonendetektors
Ch. Möller, K. Neckermann, Th. Ortlepp
Hochgenaue kalibrationsfreie Temperaturdioden
I. Tobehn-Steinhäuser
Kompakter Wellenlängensensor für Hochgeschwindigkeitsauslese von Faser-Bragg-Gittern
H.G. Ortlepp, D. Mitrenga, Ch. Heinze, M. Hinz, Ch. Neckermann, St. Görlandt
Miniaturisierte Beleuchtungseinheit für die Bestimmung der Fluoreszenzlebensdauer
Ch. Möller, A.T. Winzer, H.-G. Ortlepp, Ch. Heinze, Th. Ortlepp
Zuverlässigkeit von Silizium Dehnmessstreifen für Anwendungen bis 300°C
Th. Frank, A. Grün, S. Jagomast R. Täschner, Th. Ortlepp 
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COMPAMED 2017  13.11.2017 - 18.11.2017  Düsseldorf, Deutschland  Messestand
Halle 8a, Stand H23.1
Dr. Brodersen, A. Albrecht 
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