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| Termin | Datum | Ort | Beitrag | |
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| IKZ - Institute Colloquium | 02.06.2025 [+Cal] |
Berlin, Deutschland | Vortrag Understanding ASi-Sii-defects in frame of silicon-based quantum technology Kevin Lauer |
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| EPHJ | 03.06.2025 - 06.06.2025 [+Cal] |
Genf, Schweiz | Messestand |
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| Nanomaterials 2025 - 2nd International Conference on Advanced Nanomaterials and Nanotechnology | 06.10.2025 - 07.10.2025 [+Cal] |
Paris, Frankreich | Vortrag The Influence of cryogenic temperatures on Semiconductor devices Taghrid Haddad |
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| elmug4future-Technologiekonferenz | 21.10.2025 - 22.10.2025 [+Cal] |
Jena, Deutschland | Vortrag Cuffless Blood Pressure Monitoring with a Single Optical Sensor Thomas Ortlepp, Martin Schädel, Hans-Georg Ortlepp, Martin Jahn, Olaf Brodersen |
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| 11. MikroSystemTechnik Kongress 2025 | 27.10.2025 - 29.10.2025 [+Cal] |
Duisburg, Deutschland | Poster Changes In Molybdenum Disilicide Heating Layers In Miniaturized Infrared Emitting Devices Caused By Long Term Current Stressing Baldauf, Julia; Mistry, Shimoni; Thronicke, Nicole; Schildhauer, Toni; Winzer, Andreas; Ortlepp, Thomas Vortrag Effiziente Zustandsüberwachung mit Si-DMS und RFID-Technologie: Ein Autarkes RF-basiertes Oberflächen-Montierbares Messsystem Thomas Frank, Stefan Hermann, André Grün, Manuel Kermann, Michael Hintz, Andrea Cyriax, Klaus Ettrich Vortrag Optimierte Si-DMS: Minimierung thermischer Einflüsse für präzisere Messungen Thomas Frank, Stefan Hermann, André Grün, Manuel Kermann, Michael Hintz, Andrea Cyriax, Ralf Röder |
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| Compamed 2025 | 17.11.2025 - 20.11.2025 [+Cal] |
Düsseldorf, Deutschland | Messestand |
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| Waferbond 25 | 03.12.2025 - 04.12.2025 [+Cal] |
Chemnitz, Deutschland | Vortrag White Light Interferometry as an Analytical Method for Wafer Bonding Processes in Industrial Manufacturing Martin Feltz, Indira Käpplinger, Thomas Ortlepp |
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