Messen, Kongresse, Workshops
| Veranstaltung | Datum | Ort | Beitrag | |
|---|---|---|---|---|
| Nordpac Conference | 19.06.2017 - 20.06.2017 | Göteborg, Schweden | Smarter-SI - Smart Access to Manufacturing for Systems Integration Dag Andersson, Petra Weiler, Kepa Mayora, Rainer Günzler, Stephan Karmann, Arndt Steinke, Andreas Winzer, Patricia Vazquez, Eric Moore |
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| AMA Arbeitskreis Industrie 4.0 | 22.06.2017 | Frankfurt/Main, Deutschland | A. Steinke |
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| 11. Anwenderkongress Steckverbinder | 26.06.2017 - 28.06.2017 | Würzburg, Deutschland | Miniaturisierte Kraftsensoren zur Kontaktkraftmessung an Steckverbindern Th. Frank, A. Cyriax, Th.Ortlepp, A. Schmitt, G. Fichtner |
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| ELMUG4Future 2017 | 27.06.2017 - 28.06.2017 | Friedrichroda, Deutschland | Fast Product Development by Building Blocks with higher Technology Readiness Level (TRL) A. Steinke |
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| the International Symposium on Theoretical Electrical Engineering (ISTET-2017) | 16.07.2017 - 19.07.2017 | Ilmenau, Deutschland | Multisensors for whole-cell analytics Ingo Tobehn-Steinhäuser, Steffen Herbst, Martin Schädel, Andreas Winzer, Heike Wünscher, Thomas Ortlepp |
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| BMT 2017 - 51. Jahrestagung der BIOMEDIZINISCHEN TECHNIK und Dreiländertagung der MEDIZINISCHEN PHYSIK | 10.09.2017 - 13.09.2017 | Dresden, Deutschland | Non invasive blood pressure monitoring based on photoplethymographic signals H.-G. Ortlepp |
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| GADEST - 17th Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology | 01.10.2017 - 06.10.2017 | Lopota Resort, Georgien | Impact of electron irradiation on N- and O-enriched FZ silicon p-in-n pad radiation detectors K. Lauer, X. Xu, D. Karolewski, U. Gohs, M. Kwestarz, P. Kaminski, R. Täschner, T. Klein, T. Wittig, R. Röder, T. Ortlepp Investigation of light-induced degradation in electron irradiated silicon by charge carrier lifetime measurements K. Lauer, X. Xu, T. Klein, U. Gohs |
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| MikroSystemTechnik Kongress 2017 | 23.10.2017 - 25.10.2017 | München, Deutschland | AVT und proof of concept eines supraleitenden Einzelphotonendetektors Ch. Möller, K. Neckermann, Th. Ortlepp Hochgenaue kalibrationsfreie Temperaturdioden I. Tobehn-Steinhäuser, T. Ortlepp Kompakter Wellenlängensensor für Hochgeschwindigkeitsauslese von Faser-Bragg-Gittern H.-G. Ortlepp, M. Hintz, K. Neckermann, D. Mitrenga, S. Görlandt, Ch. Heinze, A.T. Winzer Miniaturisierte Beleuchtungseinheit für die Bestimmung der Fluoreszenzlebensdauer Ch. Möller, A.T. Winzer, H.-G. Ortlepp, Ch. Heinze, Th. Ortlepp Zuverlässigkeit von Silizium Dehnmessstreifen für Anwendungen bis 300°C Th. Frank, A. Grün, S. Jagomast R. Täschner, Th. Ortlepp |
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| COMPAMED 2017 | 13.11.2017 - 18.11.2017 | Düsseldorf, Deutschland | Messestand Halle 8a, Stand H23.1 Dr. Brodersen, A. Albrecht |
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| Photonics West | 27.01.2018 - 01.02.2018 | San Francisco, USA | Messestand Gemeinschaftsstand |
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