Messen, Kongresse, Workshops

Veranstaltung Datum Ort Beitrag  
Nordpac Conference   19.06.2017 - 20.06.2017  Göteborg, Schweden  Smarter-SI - Smart Access to Manufacturing for Systems Integration
Dag Andersson, Petra Weiler, Kepa Mayora, Rainer Günzler, Stephan Karmann, Arndt Steinke, Andreas Winzer, Patricia Vazquez, Eric Moore 
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AMA Arbeitskreis Industrie 4.0  22.06.2017  Frankfurt/Main, Deutschland 
A. Steinke 
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11. Anwenderkongress Steckverbinder  26.06.2017 - 28.06.2017  Würzburg, Deutschland  Miniaturisierte Kraftsensoren zur Kontaktkraftmessung an Steckverbindern
Th. Frank, A. Cyriax, Th.Ortlepp, A. Schmitt, G. Fichtner 
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ELMUG4Future 2017  27.06.2017 - 28.06.2017  Friedrichroda, Deutschland  Fast Product Development by Building Blocks with higher Technology Readiness Level (TRL)
A. Steinke 
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the International Symposium on Theoretical Electrical Engineering (ISTET-2017)   16.07.2017 - 19.07.2017  Ilmenau, Deutschland  Multisensors for whole-cell analytics
Ingo Tobehn-Steinhäuser, Steffen Herbst, Martin Schädel, Andreas Winzer, Heike Wünscher, Thomas Ortlepp 
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BMT 2017 - 51. Jahrestagung der BIOMEDIZINISCHEN TECHNIK und Dreiländertagung der MEDIZINISCHEN PHYSIK  10.09.2017 - 13.09.2017  Dresden, Deutschland  Non invasive blood pressure monitoring based on photoplethymographic signals
H.-G. Ortlepp 
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GADEST - 17th Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology  01.10.2017 - 06.10.2017  Lopota Resort, Georgien  Impact of electron irradiation on N- and O-enriched FZ silicon p-in-n pad radiation detectors
K. Lauer, X. Xu, D. Karolewski, U. Gohs, M. Kwestarz, P. Kaminski, R. Täschner, T. Klein, T. Wittig, R. Röder, T. Ortlepp
Investigation of light-induced degradation in electron irradiated silicon by charge carrier lifetime measurements
K. Lauer, X. Xu, T. Klein, U. Gohs 
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MikroSystemTechnik Kongress 2017  23.10.2017 - 25.10.2017  München, Deutschland  AVT und proof of concept eines supraleitenden Einzelphotonendetektors
Ch. Möller, K. Neckermann, Th. Ortlepp
Hochgenaue kalibrationsfreie Temperaturdioden
I. Tobehn-Steinhäuser, T. Ortlepp
Kompakter Wellenlängensensor für Hochgeschwindigkeitsauslese von Faser-Bragg-Gittern
H.-G. Ortlepp, M. Hintz, K. Neckermann, D. Mitrenga, S. Görlandt, Ch. Heinze, A.T. Winzer
Miniaturisierte Beleuchtungseinheit für die Bestimmung der Fluoreszenzlebensdauer
Ch. Möller, A.T. Winzer, H.-G. Ortlepp, Ch. Heinze, Th. Ortlepp
Zuverlässigkeit von Silizium Dehnmessstreifen für Anwendungen bis 300°C
Th. Frank, A. Grün, S. Jagomast R. Täschner, Th. Ortlepp 
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COMPAMED 2017  13.11.2017 - 18.11.2017  Düsseldorf, Deutschland  Messestand
Halle 8a, Stand H23.1
Dr. Brodersen, A. Albrecht 
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Photonics West  27.01.2018 - 01.02.2018  San Francisco, USA  Messestand
Gemeinschaftsstand 
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